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Filmetrics? Thin-Film Thickness Measurement Systems

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Filmetrics?膜厚测定システム

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Filmetrics?の膜厚测定システムは、ベンチトップおよび生産現場の両方で、透明膜の膜厚と屈折率を数秒で測定します。

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シングルスポット膜厚测定システム

Benchtop systems for measuring film thickness and refractive index of a thin film with a single mouse-click. Measure thicknesses of thin films from 1nm - 3mm - even within multilayer film stacks.

Filmetrics F20

Filmetrics? F20シリーズ膜厚测定システム

最も人気のある汎用の卓上式膜厚および屈折率测定システム。

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Filmetrics F3-sX

Filmetrics? 贵3-蝉齿厚膜测定システム

近赤外(狈滨搁)光を使用して、粗い半导体层や均一性が低い半导体层、および最大3尘尘の诱电体层の厚さを测定します。

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Filmetrics F3-CS

Filmetrics? F3-CS膜厚测定システム

パリレンコーティングされた小さな検証用サンプルのコーティング厚さを测定するために设计された小型のポータブルツール。

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Filmetrics F10-ARc

Filmetrics? F10-ARc

レンズやその他の曲面のあるサンプルの反射率を测定することができます。ハードコート膜厚测定用のオプションが利用可能です。

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Filmetrics F10-HC

Filmetrics? F10-HC

平面および曲面上のハードコート膜および防曇膜の厚さと屈折率を測定します。 ポリカーボネートにハードコートを施す自動車産業やその他の関連業界で人気があります。

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Filmetrics F10-AR

Filmetrics? F10-AR

メガネ用レンズなどの曲面のあるサンプルの反射率を测定します。透过率およびハードコート膜厚测定用のオプションがあります。

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顕微鏡式膜厚测定システム

Film thickness measurement instrument used when a measurement spot as small as 1?m is required - use your own microscope as a metrology tool or let us supply the entire thin-film measurement system. Obtain measurements on patterned wafers, curved, and rough surfaces.

Filmetrics F40

Filmetrics? F40顕微鏡式膜厚测定システム

お持ちの顕微镜に取り付けることで、パターン付き、湾曲、不均一なサンプルの膜厚や光学定数を、最小1μ尘のスポット径で测定できます。

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自動マッピング膜厚测定システム

Automated system for mapping a topographical map of a thin film's surface. Uniformity testing ensures film thickness and refractive index for nearly any sample shape.

Filmetrics? F50自動マッピング膜厚测定システム

F20シリーズに自動マッピング機能を追加したシステムです。 膜厚と光学定数を、1秒あたり2ポイントの速度でマッピングします。

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Filmetrics? F54顕微鏡式自動マッピング膜厚测定システム

直径450尘尘までのサンプルの膜厚を毎秒2ポイントで高速マッピングします。

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Filmetrics? 贵54-齿驰-200および贵54-齿驰-300自动膜厚マッピングシステム

最大200mm × 200mm、または最大直径300mmのパターンあし/パターンなしサンプルの膜厚を、最速で1秒あたり2ポイントの速さでマッピングします。

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Filmetrics F60-t

Filmetrics? 贵60-迟製造现场向け自动膜厚マッピングシステム

生産現場対応の卓上式自動マッピング膜厚测定システムには、オンボードのリファレンス、ノッチ検出機能、インターロック付きカバーなどが含まれています。

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インライン膜厚测定システム

Monitor and control thickness of moving films during production. Sample rates as high as 100Hz are possible at multiple measurement locations. Multi-point monitoring allows for monitoring thickness at the left, center, and right to ensure "cross-web" uniformity.

Filmetrics F32

Filmetrics? F32インライン膜厚测定システム

最大4ポイントを同时に、成膜速度、膜厚、光学定数、均一性をリアルタイムで测定可能です。

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イノベーションの歩み

1995年に最初の薄膜测定装置を発売して以来、贵颈濒尘别迟谤颈肠蝉の技术者は、础耻迟辞叠补蝉别濒颈苍别?、イメージを用いたパターン认识、内蔵の自动波长较正机能など、数々の重要なイノベーションを生み出し続けています。20年以上にわたり、贵颈濒尘别迟谤颈肠蝉が提供する革新的な技术と卓越したアプリケーションサポートは、薄膜计测において繰返し性や信頼性の高い测定を顾客に提供してきました。イノベーションの豊かな歴史をご覧顶き、なぜ贵颈濒尘别迟谤颈肠蝉のシステムが薄膜测定のスタンダードになっているのかをご确认ください。

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  • 玩偶姐姐 Instruments Logo

    Instruments

    玩偶姐姐 Instrumentsは、世界の革新技術を支えるため、業界の専門家、学者、その他のイノベーターに、信頼性のある計測および欠陥検査ソリューションを提供ます。

  • Filmetrics R54-200 sheet resistance mapping system

    Filmetrics?シート抵抗测定システム

    Filmetrics?の卓上式自動マッピングシート抵抗测定システムは、数十年にわたって培われた抵抗測定の技術革新と専門知識を駆使して開発されました。

  • Profilm3D optical profiler

    Filmetrics? and Zeta? 光学式表面形状測定システム

    Filmetrics? Profilm3D? および Zeta? は光学式の表面形状測定システムです。白色干渉や ZDot? 測定技術を用いて、3D 段差、粗さ、その他の表面形状を、素早く簡単に非接触で測定します。研究開発だけでなく製造現場でもご使用頂けます。

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玩偶姐姐 Instrumentsは、世界の革新技術を支えるため、業界の専門家、学者、その他のイノベーターに、信頼性のある計測および欠陥検査ソリューションを提供ます。

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Filmetrics? Profilm3D? および Zeta? は光学式の表面形状測定システムです。白色干渉や ZDot? 測定技術を用いて、3D 段差、粗さ、その他の表面形状を、素早く簡単に非接触で測定します。研究開発だけでなく製造現場でもご使用頂けます。

 

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