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Halbleiter: amorphes Silizium (a-Si) und polykristallines Silizium Schichtdickenmessung

Messen Sie die optischen Konstanten (n und k) sowohl von amorphem als auch von Polysilizium mit dem Filmetrics F54. Das Tool umfasst ausgeklügelte Messroutinen, die gleichzeitig die Substratdicke, die Siliziumschichtdicke sowie die SiO₂-Zwischenschichtdicke messen und analysieren – alles mit einem einzigen Mausklick. Wir bieten au?erdem kostenlose Testmessungen von Si-Wafern an. Die Ergebnisse liegen normalerweise innerhalb von 1 bis 2 Tagen vor.

Halbleiter: Messung dielektrischer Eigenschaften

Die genaue Messung dielektrischer Filme ist für die Elektronikindustrie von entscheidender Bedeutung. Nachfolgend sind die g?ngigsten dielektrischen Anwendungen aufgeführt, die von einem Filmetrics-Messsystem gemessen werden:

• Siliziumdioxiddicke: Mit unseren Filmetrics-Systemen kann die Dicke von SiO₂ -Filmen von 3 nm bis zu 1 mm gemessen werden.
• Brechungsindex von Siliziumnitrid (Si₃N₄): Die Messung des Brechungsindex von Siliziumnitrid neben der Dicke des Films erm?glicht eine vollst?ndige Charakterisierung Ihres Si₃N₄-Films in Sekundenschnelle. Kontaktieren Sie unsere Schichtdickenexperten, um Ihre dielektrische Anwendung zu besprechen oder fordern Sie eine kostenlose Testversion an.

Anzeige: ITO-Filmdicke

Messen Sie die Filmdicke von Indiumzinnoxid (ITO) und anderen transparenten leitf?higen Oxiden (TCOs) mithilfe genauer Messungen des Brechungsindexes. Filmetrics-Tools k?nnen Flüssigkristallschichten messen, darunter Polyimid-, Hartlack-, Flüssigkristall- und OLED-Schichten, einschlie?lich der Emissions-, Injektions-, Puffer- und Verkapselungsschichten.

Messung der Dicke von Beschichtungen für biomedizinischen Produkten

Anwendungen – wie Katheter- und Angioplastieballone, Stents, Führungsdr?hte, Nadeln und andere Implantate – mit einem Klick. Biomedizinische Ger?te verfügen über spezielle Beschichtungen, die die Ger?te vor Korrosion schützen, w?hrend andere vor Komplikationen wie Gewebetrauma, Infektion oder sogar Absto?ung schützen. Die Messung der Schichtdicke von Arzneimittelabgabeger?ten ist ebenfalls eine g?ngige Anwendung. Unsere Filmetrics-Systeme erm?glichen schnelle und zuverl?ssige Schichtdickenmessungen, die zerst?rungsfrei sind und keine Probenvorbereitung erfordern.

Anzeige: OLED Metrology

Organische Leuchtdioden (OLEDs) werden in vielen Anzeigeger?ten verwendet, darunter Mobiltelefone und Fernsehger?te. Die Metrologie der vielen dünnen Filme, aus denen OLED-Displays bestehen, ist von entscheidender Bedeutung und erfordert ein berührungsloses Messsystem, um die OLED-Dicke effektiv zu messen. Unser F54-UV-Schichtdickenmessger?t bietet kostengünstige, robuste und nichtinvasive Messverfahren für einfache Prototypger?te und vollst?ndig gepixelte Displays. Da unsere OLED-Messger?te spektroskopisch sind, k?nnen auch chemische Ver?nderungen erkannt werden, die in diesen atmosph?risch empfindlichen Materialien auftreten k?nnen. Wir bieten au?erdem kostenlose Testmessungen der Schichtdicke von OLED-Proben an.

Halbleiter: Messung der Dicke von Fotolacken Das

Einnzelpunkt-Tisch- und Mappingsystem F54 misst die Dicke von Fotolack und die ?tzrate von einschichtigen, mehrschichtigen und sogar freistehenden Fotolacken. Alle Filmetrics-Modelle messen die Fotolackdicke (und den Index) durch eine pr?zise Modellierung der spektralen Reflexion. Spezielle propriet?re Algorithmen erm?glichen eine robuste Analyse mit nur einem Klick, wobei Ergebnisse normalerweise in weniger als einer Sekunde verfügbar sind. Die Messung der Schichtdicke von SU-8, der Schichtdicke von Dow BCB und anderen dicken Fotolacken sind beliebte Anwendungen für die Filmetrics-Produktlinie.

Dünnschichtmessung Por?ses Silizium

wird in vielen verschiedenen Anwendungen eingesetzt, darunter optische Ger?te, Gassensoren und biomedizinische Ger?te.

Zu den für die Industrie interessanten Messungen por?ser Dünnschichten z?hlen Schichtdicke und Porosit?t. Im Allgemeinen werden zerst?rungsfreie Methoden wie gravimetrische Messungen verwendet, um die Porosit?t zu messen, aber die Genauigkeit dieser Methode ist sehr gering. Filmetrics^? F54 bietet einen kostenlosen, einzigartigen Analysealgorithmus, der Schichtdicke, den Index und die Porosit?t von por?sem Silizium mit einem einzigen Mausklick ermittelt.

Messung der Siliziumscheibe und Membrandicke

Die Filmetrics^?-Systeme umfassen Tisch-, Mapping- und Produktionssysteme zur Messung der Dicke von Siliziumscheiben und Membran. Zu den üblicherweise gemessenen Wafermaterialien z?hlen einfach oder doppelt poliertes Silizium, Saphir, Quarzglas, SiC, LiTaO₃, GaN und Glas.

Unsere technischen Experten k?nnen Ihnen helfen, das beste Filmetrics-Tool zu finden, das für Ihre Anforderungen an Schichtdickenmessung geeignet ist. Dazu geh?ren z. B. die Notwendigkeit verschiedener Dickenbereiche oder eine Einzelpunktmessung im Vergleich zu einem Schichtdciken-Mapping usw.