芯片分拣,出厂质量控制 (OQC),合格芯片确认 (KGD),单元级可追溯性 (ULT)
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Products
ICOS? F260
芯片分拣与检测系统
ICOS? F260 芯片分拣与检测系统可以为切割晶圆级封装提供高性能芯片分拣以及一体化全自动检测。ICOS F260 系统包含最先进的短波红外检测模块,能够以接近零的过杀率和高通量提供可靠的细微裂纹和侧壁裂纹检测。该系统还可以搭载专门的激光凹槽检测模块,能够检测到肉眼不可见的激光凹槽裂纹,这些裂纹对于扇入式先进晶圆级封装、内存芯片和裸晶片都是致命缺陷。ICOS F260 系统高度灵活,支持晶圆到编带 (wafer-to-tape)、编带到编带 (tape-to-tape) 等多种工作流程,转换时间极短,可优化大批量制造环境中的设备利用率。
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